Просвечивающий микроскоп ПЭМ-200

Просвечивающий микроскоп ПЭМ-200 предназначен для исследования микроструктуры и фазового состава объектов.

Основные функции микроскопа

• наблюдение и фотографирование изображений объектов в широком диапазоне увеличений
• исследование объектов в режимах микро-дифракции, малоугловой дифракции, дифракции высокого разрешения
• исследование объектов при их наклоне и вращении
• режим высокого контраста для медико-биологических объектов
• автоматизированное компьютерное управление
• компьютерный анализ изображений объектов по специальным программам
• элементный анализ исследуемых объектов

Ускоряющее напряжение

25-125 кВ, шаг регулировки 0,05; 0,1; 1,0; 5,0 10,0; 25,0 кВ нестабильность 2×10-6 1/мин, вобблер, автоматическая компенсация токов линз и токов отклоняющих систем при изменении ускоряющего напряжения.

Конденсорный блок

Две линзы; десять ступеней регулировки диаметра электронного пучка на объекте в диапазоне от 5 мкм до 0,1 мкм; программное управление отклоняющей системой наклона и перемещения электронного пучка на объекте; независимая юстировка режимов светлого и темного поля; быстрый переход из одного режима в другой; запоминание шести положений наклона электронного пучка; держатель c тремя сменными диафрагмами; угол наклона электронного пучка на объекте ±4o; вобблер отклоняющей системы и второй конденсорной линзы.

Объективная линза

Эвцентрический гониометр с боковым вводом объекта, наклон объекта от электропривода, в держатель устанавливаются два объекта, автоматическая система шлюзования камеры объектов, три сменных полюсных наконечника: высокого разрешения, большого наклона, высокого контраста; восьмиполюсный электромагнитный стигматор с коррекцией смещения изображения при стигмировании, противозагрязняющая защита с жидким азотом, держатель с тремя сменными апертурными диафрагмами, вобблеры для юстировки магнитного центра и фокусировки изображения, фокусировка изображения с известным шагом с индикацией на дисплее компьютера, цифровая индикация положения объекта на дисплее компьютера с запоминанием координат по Х и У

Проекционная система

Четыре линзы, при изменении увеличений в диапазоне от 2000 до 500 000 крат фокусировка изображения автоматически сохраняется, поворот изображения и дифракционной картины при изменении увеличения или длины камеры отсутствует, держатель с тремя сменными селекторными диафрагмами.

Камера наблюдений

Окно для наблюдения изображения 220 × 280 мм, дополнительный экран для фокусировки Ж25 мм, десятикратный бинокуляр.

Система фоторегистрации

Вакуумная камера с возможностью фоторегистрации на плоскую фотопленку размером 90 × 65 мм (24 шт.). Автоматический фотоэкспонометр. На фото-пластине индицируется номер эксперимента и увеличение. Более подробная информация об условиях эксперимента хранится в базе данных компьютера.

Управление прибором

Микроскоп управляется от промышленного компьютера типа ADVANTECH. Программное обеспечение в операционной среде WINDOWS. Управление от манипулятора типа "Мышь". В память компьютера занесены методы юстировки, работа на приборе, технические характеристики и другая необходимая информация. Программное обеспечение в операционной среде WINDOWS позволяет не только управлять микроскопом, но на этом же компьютере производить анализ химического состава объектов при работе с энергодисперсионным спектрометром и анализ изображения объектов по специальным программам при работе с CCD-камерой.

Вакуумная система

Два механических пластинчато-роторных насоса для создания предварительного разрежения, один магниторазрядный насос для откачки пушки, конденсорного блока, объектива и проекционного блока, один диффузионный насос для откачки камеры наблюдений и фотокамеры.

Дополнительное оборудование

Электронный микроскоп ПЭМ-200 может быть оснащен (по отдельному договору) следующими дополнительными устройствами:

• системой вывода и анализа изображения (САИ) с боковым и нижним выводом изображения при помощи CCD-камеры;
• системой рентгеновского анализа (ЭДС) с полупроводниковым Si (Li) детектором;
• комплектом дифракционных приставок (КДП) для исследования объектов в режиме дифракции высокого разрешения (длина камеры 410 мм), в том числе с нагревом объекта до 8000 oС и охлаждением до минус 1200oС;
• держателем объектов с двойным наклоном (ДО-01), угол наклона объектов в держателе ±45o;
• автономной системой водяного охлаждения (АСО), поддерживающей постоянную температуру охлаждающей воды в диапазоне 16 ± 30 oС с точностью ± 10 °С;
• холодопроизводительность системы не менее 2,5 кBт.